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无损X荧光镀层测厚仪

无损X荧光镀层测厚仪

简要描述:无损X荧光镀层测厚仪 用于镀层行业的一款XRF膜厚测试仪器,设备关系到产品的质量以及生产成本,(例如:镀层厚度超过了电镀的标准,尤其对贵金属银、金等,将会大大提产品的成本,从而失去市场竞争力),

所属分类:XRF检测仪

更新时间:2022-03-09

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌其他品牌应用领域环保,化工,电子

详情介绍

无损X荧光镀层测厚仪应用范围

-测厚范围可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:Ti22–U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时,可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响,自动消除系统漂移谱峰计数时,峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间,密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求XY程控机构)鼠标激活测量模式:“PointandShoot"多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求XY程控机构)设定测量点OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile测量位置预览(图表显示)

-统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、大值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析,如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析贵金属检测,如Aukarat评价

 

无损X荧光镀层测厚仪技术参数

重量:90 kg

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

无损荧光镀层测厚仪一次可同时分析多达五层镀层

薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm




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