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磁性材料镀层测厚仪

磁性材料镀层测厚仪

简要描述:磁性材料镀层测厚仪 X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器(RoHS检测)、珠宝首饰(贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

所属分类:X荧光镀层测厚仪

更新时间:2022-03-10

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域环保,化工,电子

详情介绍

磁性材料镀层测厚仪测试步骤

 

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick":用户使用“Administrator",密码:skyray2.进入测试软件后,选择“测试条件"点击“确定",即测试条件确定(仪器已设置好)3.选择“工作曲线"如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推4.放入“Ag片"对仪器进行初始化初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到一定的数,如300以上)。5.待测样品测试放入待测的样品,通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始",输入样品名称后“确定"。6.测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告"快捷方式中的“镀层报告"中找到。注意:测试镀层样品时,必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。 

磁性材料镀层测厚仪技术参数 

 

1   分析元素范围:S-U2   可分析多达3层以上镀层3   分析厚度检出限达0.02μm4   多次测量重复性可达0.05μm5   定位精度:0.5mm5   测量时间:30s-300s

6   计数率:1000-8000cps

 

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

镀层厚度分析;

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测;

合金成分分析;

7  仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例,分析的范围是0.02—30um,在这个范围内,才能检测。0.5-10um的,偏差是5%,就是说真值是1um,用仪器测试的值是0.95-1.05um。

天瑞仪器92年就开始做光谱仪,经过多年的积累,在镀层厚度检测方面,我们一直保持国内:主要原因是我们的性价比与售后服务具有很强的竞争力,这个优势不仅仅体现在购买价格上,也体现在产品生命周期花费的总体成本上。Thick600镀镍测厚仪是天瑞仪器价格zi优的镀层测厚仪;仪器采用下照式结构,适合平面样品的检测,配置的软件界面简洁,测试样品用时40S,售后服务可靠及时。

 

厂家优势 天瑞公司有完善的质量管理体系,从进口核心零部件的检测开始,到仪器的组装,数据的标定及考核,均严格把关,能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求,进行产品质量的管理,每道工序进行严格的检验,绝不允许不合格的流到下到工序;不合格的产品不出厂,坚决做到“三不"和“三不放过",确保产品质量可靠,用户使用放心。 

 

性能优势

 

下照式:可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片手动切换:不同样品材质用不同的准直器移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点高分辨率探测器:提高分析的准确性新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率 

硬件配置 

                                      

1. 探测器2. 高、低压电源3. X光管                              4. MCA多道分析器5. 高精密摄像头6. 移动平台(自动)7. 准直器8. 标准样品

 

厂家介绍

 

公司主营产品X荧光检测仪具有快速、准确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器(RoHS检测)、珠宝首饰(贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。




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