铝镀铜层测厚仪Thick800a

• 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

• 探测器：Si-Pin探测器

• 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

• 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器

• 温度要求：15℃至30℃。

• 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

• 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

软件优势

铝镀铜层测厚仪Thick800a仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。

软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

铝镀铜层测厚仪Thick800a技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机