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X荧光金属镀层测厚仪

X荧光金属镀层测厚仪

简要描述:X荧光金属镀层测厚仪 是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在汽车涂覆层测厚中可谓大展身手,同时在电镀加工、铝合金镀层、五金工具镀层、线路板镀层等领域广泛应用。

所属分类:镀层测厚仪

更新时间:2022-03-10

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域环保,化工,电子

详情介绍

X荧光金属镀层测厚仪产品介绍

天瑞仪器Thick 800A是专门研发用于金属镀层行业的一款自动分析仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,基本实现智能化,是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在汽车涂覆层测厚中可谓大展身手,同时在电镀加工、铝合金镀层、五金工具镀层、线路板镀层等领域广泛应用。


仪器配置

 

开放式样品腔 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动 双激光定位装置 铅玻璃屏蔽罩 
Si-Pin
探测器 信号检测电子电路 高低压电源 
X
光管 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机

性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 
φ0.1mm
的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加准
良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护

 

X荧光金属镀层测厚仪技术指标

 

元素分析范围:硫(S)~ 铀(U 同时检测元素:多24个元素,5层镀层 检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:2ppm99.9%
镀层厚度:50μm以内(每种材料有所不同) 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回收程序 重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
操作环境温度:15℃~30 电源:交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 外观尺寸: 576W×495D×545Hmm 
重量:90kg




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