X荧光镀层测厚分析仪

仪器介绍

早期，X荧光镀层测厚分析仪基本被国外厂家（德国费希尔，日本精工，牛津等）垄断，用户可以选择的厂家比较少。是一家专业生产光谱仪的厂家，在X荧光镀层检测方面，*打破国外的技术垄断。天瑞Thick800A内置了天瑞研发的信噪比增强器与数字多道分析器，在测试精度可以与进口设备PK过程中不落下风。超低的检出限使仪器的性能在与进口设备（费希尔，精工，牛津等）PK过程中不落下风；仪器使用方便，测试快捷，可以测试镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等金属镀层厚度。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-20052、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-20053、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005测量标准1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000    金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特点：1. 高精度移动平台可准确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；3. φ0.2mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；4. 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；5. 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；6. 高分辨率探头使分析结果更加准确，微小测试点更准确；7. X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。 测试实例镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行准确定位测试，其测试位置如图。
 X荧光镀层测厚分析仪技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机