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X荧光测厚仪 Thick800a

X荧光测厚仪 Thick800a

简要描述:X荧光测厚仪 Thick800a 工作原理是利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。

所属分类:镀层测厚仪

更新时间:2022-03-11

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域环保,化工,电子

详情介绍
  • 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

  • 探测器:Si-Pin探测器

  • 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

  • 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器

  • 温度要求:15℃至30℃。

  • 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

  • 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm


X荧光测厚仪 Thick800a性能优势

可靠性高:

由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:

:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

快速:

1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

无损:

测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:

实时谱图,可直观显示产品测试点

简易:

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

性价比高:

相比其他类类仪器,X光测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

 

应用领域

X光测厚仪主要针对金属镀层(镀金,镀镍,镀锡,镀锌,镀铜,镀银,镀铑,镀钯等)厚度测试,广泛应用于线路板、五金工具,汽车配件,电子连接器,高压开关,卫浴等企业中,得到了客户的广泛应用和认可。

技术参数

 

重量:90 kg

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层

zui薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm

 

X荧光测厚仪 Thick800a的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。




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