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金属镀层测厚仪器

金属镀层测厚仪器

简要描述:金属镀层测厚仪器 方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

所属分类:镀层测厚仪

更新时间:2022-03-11

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域环保,化工,电子

详情介绍

金属镀层测厚仪器为什么选择天瑞thick800a
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

 

性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
zui小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

快速、无损的分析

成份分析zui多可达25种元素

同时可zui多分析5层

基于基本参数法的镀层和成份分析方法

仅需一根USB线与电脑连接

快捷的面板控制按钮

占用空间小、轻量化设计

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层 
一次可同时分析多达五层镀层
zui薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高

工作环境
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg

产品检测实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行精确定位测试,其测试位置

 

金属镀层测厚仪器产品可以对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。天瑞仪器thick800a核心部件:




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