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X荧光镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪

简要描述:X荧光镀层测厚仪 一款XRF膜厚测试仪器,设备关系到产品的质量以及生产成本,(例如:镀层厚度超过了电镀的标准,尤其对贵金属银、金等,将会大大提产品的成本,从而失去市场竞争力)

所属分类:X荧光镀层测厚仪

更新时间:2022-03-14

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域环保,化工,电子

详情介绍

工作原理:

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

 

X荧光镀层测厚仪技术参数

重量:90 kg

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

无损荧光镀层测厚仪一次可同时分析多达五层镀层

薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm

X荧光镀层测厚仪性能优势

可靠性高:
由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:
:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

快速:
1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

无损:
测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:
实时谱图,可直观显示产品测试点

简易:
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

性价比高:
相比其他类类仪器,x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。




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